СЧ ОКР «Разработка тестовых элементов и измерение электрофизических параметров слоев (Ga,Al)N на подложках SiC и слоев (Ga,Al)N с p-слоем на подложках Si»
РегионСанкт-Петербург
ЗаказчикФедеральное Государственное Бюджетное Учреждение Науки Научно-технологический Центр Микроэлектроники И Субмикронных Гетероструктур Российской Академии Наук
Подача заявокСрок подачи не указан
Тендем обновлял карточку
3 000 000 ₽
Срок не указан
О закупке
Закупка у единственного поставщика (исполнителя, подрядчика)
Лоты
- СЧ ОКР «Разработка тестовых элементов и измерение электрофизических параметров слоев (Ga,Al)N на подложках SiC и слоев (Ga,Al)N с p-слоем на подложках Si»Цена не указана
Контакты заказчика
Реквизиты
- Реестровый номер
- 32615710499
- ИНН заказчика
- 7802030940
- Адрес
- 194021, г Санкт-Петербург, ул Политехническая, дом 26, корпус з, офис (квартира) 608
- Подача заявок
- не указано источником
- Опубликовано
- 16.02.2026, 13:50 МСК
- Закон
- 223-ФЗ
- Способ закупки
- Закупка у единственного поставщика (исполнителя, подрядчика)
- СМП/СОНКО
- Нет
- Аванс
- не предусмотрен
- Обеспечение заявки
- не указано источником